半导体博曼（BOWMAN)膜厚测试仪可测量：单一镀层、二元合金层、三元合金层、双镀层，保证镀层厚度品质，减少电镀成本浪费，应用范围较广的标准型镀层厚度测量仪 分析:详述.元素范围铝13到铀92。.x射线激发能量50 W(50 kv和1 ma)钨靶射线管.探测器硅PIN检测器250 ev的分辨率或更高的分辨率.测量的分析层和元素5层(4层镀层+基材)和10种元素在每个镀层成分分析的同时多达25元素，深圳市金东霖科技有限公司是美国博曼X射线镀层膜厚测试仪中国区资深代理商，集销售、保养、校正（调试）及维修等服务一体化 ，让客户满意是我们金东霖科技始终的目标！

金东霖从事博曼膜厚仪（镀层/涂层/氧化膜等）测厚仪器的销售业务及维修服务，博曼镀金膜厚仪俗称镀层测厚仪，膜厚测试仪，X-RAY膜厚仪等等， 主要检测金属镀层膜厚厚度的仪器，保证镀层厚度品质，减少电镀成本浪费。此仪器特别适合于小的镀层测量，如端子，连接器，细小的金线，在五金，汽车配件．线路板．卫浴，等行业．也有杰出的表现．可测量．单层．双层，合金层等多种镀层