optris红外测温仪特性测试仪简介：
　　早期的频率特性测试仪是通过手动改变频率的方法逐点测量完成的，后来按照这种方法设计了专门的扫描仪用于频率特性的测量。早期的测量仪大都采用分立元件来实现各种功能，显示部分也是用传统的示波器。所以体积大、设备重、故障率高、操作复杂、价格昂贵，有的只能测量幅频特性，且不高。
　　近几年，随着现代电子技术的飞速发展，各种仪器都偏向小型化、数字化、智能化、低功耗方向发展，频率特性测试仪作为一种重要的测量仪器，也在不断的发展，由于直接频率合成(DDS)技术的日益成熟，为频率特性测试仪的数字化开辟了道路，液晶显示器技术的成熟使频率特性测试仪小型化成为可能。
　　频率特性optris红外测温仪也得到改进，扫频源采用数字量进行控制，数字化信号源可以弥补分立元件的不足，测量部分也进行了数字化的改进，大多都在低频段(小于1MHz)，测试仪的智能化程度仍然不是很高，扫频范围也不宽，相位测量也不高，虽然有一些测试仪也具有很高的和很宽的扫频范围，但是价格极其昂贵。

　　设计了一个基于单片机频率特性测试仪的成品。该系统基本达到了全数字化，这有利于缩小仪器的体积、减轻重量、降低成本，为用户携带提供了方便。

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