梅特勒高分析天平
价格:电议
地区:
电 话:86 0755 82799077

梅特勒AB265-S高分析天平

 

产品参数
量 程: 61/220g
精 度: 0.01/0.1mg
称盘尺寸: Φ80
线 性: ±0.2mg*
重 复 性: 0.05/0.1mg
外型尺寸: 245×321×344mm

产品用途
本产品适用于各地研究所和实验室

主要特点
1.采用高分辨率的称量单元,满足用户高的称量需求
2.称量单元保护装置(CellProtector),提高产品的抗冲击、过载性能
3.坚固的金属机架,避免称量样品的污染,延长天平的使用寿命
4.可读性为0.1mg天平采用背亮式液晶显示屏(Backlit LCD),方便用户读取称量结果
5.内置砝码校准,确保称量结果的准确性
6.双量程(DualRange)设计,满足客户对不同样品的称量需求
7.可以拆除的防风罩设计,实现天平的快速清洁
8.内置RS232通讯接口,方便连接打印机、电脑等外围设备
9.标配机架塑料保护罩(Protective cover),避免散落样品的腐蚀
10.具有简单称量、百分比称量、计件称量和动态称量等内置应用程序
AB-L:外置砝码校准(需选购);
AB-S:内置砝码校准;
AB-IC:内置砝码校准;
AB-S/FACT:采用温度漂移及时间设置触发的全自动校准技术(FACT)。
(1)精细量程内10 g样品典型重复性:0.02mg ;

(2)精细量程内10 g样品典型线性:0.03mg