CMI900系列X射线荧光镀层测厚仪
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产 品 说 明
英国牛津仪器CMI900系列   X射线荧光镀层测厚仪 
 加深台
 固定台
 自动台
 仪器介绍CMI900荧光X射线镀层测厚仪,有着非破坏,非接触,快速无损测量,多层合金测量,高生产力,高再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量,从质量管理到成本节约有着广泛的应用。 适用范围用于电子元器件,半导体,PCB,FPC,LED支架,汽车零部件,功能性电镀,装饰件,连接器,端子,卫浴洁具,首饰饰品……多个行业表面镀层厚度的测量;测量镀层,金属涂层,薄膜的厚度或液体(镀液的成分分析)组成。 主要特点测量范围宽,可检测元素范围:Ti22–U92;可同时测定5层/15种元素/共存元素较正;高、稳定性好;强大的数据统计、处理功能;NIST的标准片;服务及技术支持。 技术参数
主要规格规格描述
X射线激发系统垂直下照式X射线光学系统
空冷式微聚焦型X射线管,Be窗
标准靶材:Rh靶;任选靶材:W、Mo、Ag等
功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)
装备有安全防射线光闸
二次X射线滤光片:3个位置程控交换,多种材质、多种厚度的二次滤光片任选
准直器系统单准直器组件
多准直器自动控制组件:多可同时装配6种规格的准直器
圆形、矩形和多种规格尺寸准直器任选(红色为常用的): 
类型单位准直器规格
圆形mil468121320
mm0.1020.1520.2030.3050.330.508
矩形mil1x22x20.5x101x102x104x16
mm0.025x0.050.05x0.050.013x0.2540.254x0.2540.051x0.2540.102x0.406
测量斑点尺寸在12.7mm聚焦距离时,小测量斑点尺寸为:0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm<即1x2mil>准直器)
在12.7mm聚焦距离时,测量斑点尺寸为:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm<即圆形12mil>准直器)
样品室开槽式样品室
样品台尺寸610mm x 610mm
XY轴移动范围标准:152.4 x 177.8mm<程控>
Z轴程控移动高度43.18mm
XYZ轴控制方式多种控制方式任选:XYZ三轴程序控制;XY轴手动控制和Z轴程序控制;XYZ三轴手动控制
样品观察系统高分辨彩色CCD观察系统,标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。
激光自动对焦功能
可变焦距控制功能和固定焦距控制功能
计算机系统配置IBM计算机佳能或爱普生彩色喷墨打印机
分析应用软件操作系统:Windows XP中文平台分析软件包:SmartLink FP软件包
测厚范围可测定厚度范围:取决于您的具体应用。
基本分析功能采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品;
样品种类:镀层;
可检测元素范围:Ti22 – U92;
可同时测定5层/15种元素/共存元素校正;
贵金属检测,如Au karat评价;
材料和合金元素分析;
材料鉴别和分类检测;
多达4个样品的光谱同时显示和比较;
元素光谱定性分析。
调整和校正功能系统自动调整和校正功能,自动消除系统漂移
测量自动化功能鼠标激活测量模式:“Point and Shoot”
多点自动测量模式:随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、重复测量模式
测量位置预览功能
激光对焦和自动对焦功能
样品台程控功能设定测量点
连续多点测量
测量位置预览(图表显示)
统计计算功能平均值、标准偏差、相对标准偏差、值、小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图
任选软件:统计编辑器允许用户自定义多媒体书
数据分组、X-bar/R图表、直方图
数据库存储功能
系统安全监测功能Z轴保护传感器样品室门开闭传感器