KIS产品简介
针对平板产品背面缺陷检测设计，适用于内检测时的装配不良和外检测时的后盖不良检测。特点是两段式传送结构，中间保留一段空隙用于相机自下而上采集流过的产品背面图像，进而在运动中完成 检测。此产品的机构特点是尺寸较小，设置灵活，便于在产线或独立的质检室安装应用。
功能简介
1、内检测时装配不良，如螺钉漏打、打歪、错打，连接器破损、未闭合等；
2、外检测时后盖外观不良，如外壳划痕、污渍、丝印不良等；
实现方案
1、基于传送带运输，C1、C2段皮带各为300mm，进行背面检测；
2、加宽皮带宽度至200mm，C1段宽度可以调节，以适合多种尺寸的产品；
3、背面检测使用5M像素相机配专用平面检测光源，确保图像均匀清晰；
4、专用的检测算法进行背面装配不良检测。