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日本日置IM3533/IM3533-01LCR测试仪
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日本日置IM3533/IM3533-01LCR测试仪

HIOKI新发售三款LCR测试仪，IM3523，IM3533和IM3533-01。适用于电子元器件业界，用途覆盖从产线到研发的各个领域。IM3523，IM3533和IM3533-01 LCR测试仪系列，用途覆盖从产线到研发的广泛领域,三款LCR测试仪在以往产品的基础上又增加了新功能。IM3523在电子元器件生产方面高效、便捷，IM3533在IM3523的基础上增加了变压器测量和线圈感应功能。后，IM3533-01包含了以上两款所有功能并在性能上有所突破，增加了更多应用于研究开发领域的功能。大范围测量频率、电压和电流，适用于广泛领域。
三款测试仪与以往产品相比能更广泛地测量频率和信号范围。这使得仪器在操作上带来便捷的同时也能让测量应用领域变得更广。
 日本日置IM3533/IM3533-01LCR测试仪

应用覆盖线圈&变压器生产到研发等诸多领域

?基本±0.05％，测量范围广泛(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA)。
?在例如C-D和ESR这样的混合测量条件下，不间断测试，速度比以往产品快10倍。
?内置的低阻抗高模式可有效测量低感应或铝电解电容的等效串联电阻。
(测量速度是以往产品3522-50的10倍，大大提高了反复性和稳定性)
?专用模式，用于测量变压器线圈比率，互感系数和温度补偿DCR。
?频率扫描测试(仅IM3533-01)
?除标准0m/1m以外的2m/4m电缆设置。
?内置比较器和BIN功能。
?2毫秒的快速测试时间
 日本日置IM3533/IM3533-01LCR测试仪技术参数：

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IM3523

IM3533

IM3533-01

3522-50 (以往型号)

测量频率

40 Hz 到 200 kHz

1 mHz 到 200 kHz

1 mHz 到 100 kHz

测量电压

5 mV 到 5 V

普通：5mV到5V
低阻抗高模式：5mV到2.5V

10 mV 到 5 V

测量电流

10 mA 到 50 mA

普通：10mA到50mA
低阻抗高模式：10mA到100mA

10 mA 到 100 mA

 

型号IM3533LCR测试仪IM3533-01LCR测试仪
测量模式LCR，变压器测试(N,M,△L)， 连续测试(LCR模式)LCR，变压器测试(N,M,△L)， 分析仪(扫描测试)，连续测试(LCR/分析模式)
测量参数Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, DCR (DC resistance), X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q, N, M, ΔL, T
测量量程100mΩ～100MΩ,10个量程(所有参数根据Z定义)
可显示量程Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp:
± (0.000000 [单位] ～9.999999G [单位])
只有 Z和Y显示真有效值
θ: ± (0.000° to 999.999°), D: ± (0.000000 to 9.999999)
Q: ± (0.00 to 99999.99), Δ%: ± (0.0000% to 999.9999%)
基本Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03°
测量频率40Hz ～200kHz (1mHz ～10Hz)
测量信号级[输出阻抗]
V模式，CV模式：5mV～5Vrms,1mVrms
CC模式：10μA～50mArms,10μArms
[低阻抗高模式]
V模式，CV模式：5mV～2.5Vrms,1mVrms
CC模式：10μA～100mArms,10μArms
输出阻抗正常模式：100Ω,低阻抗高模式：25Ω
显示5.7英寸触摸屏，彩色TFT，显示可设置ON/OFF
测量时间2ms(1kHz,FAST,显示OFF，代表值)
功能DC偏置测量，DC电阻温度补偿
(转换参考温度显示),比较器，BIN测量(分类功能),节点负载/补偿，记忆功能
接口EXT I/O(处理器)，USB通信(高速)，USB存储
选件：RS-232C,GP-IB,LAN任选一
电源100～240V AC，50/60Hz，50VA
尺寸，重量330mm W×119mm H×168mm D, 3.1kg
14附件电源线×1，操作手册×1，CD-R(包括PC指令和样本软件)×1

探头和测试治具
4端子探头L2000
DC~5MHz，1m长
4端子探头9140-10
DC~200kHz，50Ω，1m长

(近期发售)
针型探头9143-10
DC~5MHz，50Ω，1m长

(近期发售)
测试夹具9261-10
DC~5MHz，50Ω，线缆连接型，1m长

(近期发售)
测试冶具 9262
直接连接型, DC～5 MHz
SMD测试冶具 9263
DC~5MHz，直接连接型，测试样品尺寸：1mm~10mm
SMD测试治具9677
用于侧面有电极的SMD
DC~120MHz，测试样品
尺寸：3.5mm±0.5mm
SMD测试治具9699
用于底部有电极的SMD
DC~120MHz，测试样品
尺寸：宽1.0~4.0mm，1.5mm
PC通讯
GP-IB接口Z3000
 
RS-232C接口Z3001
 
LAN接口Z3002
 
GP-IB连接线9151-02
2m长
  
温度探头
针型温度探头9478
Pt100，前端φ2.3mm，1m长，防水构造
 

品牌/商标

日本日置

企业类型

贸易商

新旧程度

全新