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光伏专用椭偏仪
价格：电议
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北京赛凡光电仪器有限公司

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特点

  • 一体化样品台技术，兼容测量单晶和多晶太阳电池样品
  • 新型样品调节技术，有效提高样品定位
  • 独特的噪声处理方法，显著增强信噪比
  • 新型光电增强技术，显著降低生产现场噪声对结果的影响
  • 现场供电检测和调节功能，适应更加复杂的供电环境
  • 多种测量模式选择，适合对不同要求的场合
  • 多线程软件结构，提高用户体验

应用领域

  绒面单晶、多晶及各种薄膜太阳电池上纳米薄膜的厚度、折射率n和消光系数k测量，尤其适合太阳电池生产线上的现场检测。同时可用于纳米薄膜样品的生产工艺研究以及实验室中的科研使用，应用领域包括半导体、集成电路、微电子、光学薄膜、医学与生命科学、电化学、平板显示领域、磁介质存储、聚合物和金属处理等。

技术指标 

激光波长

632.8nm (He-Ne laser)

膜层厚度

0.01nm (对于Si基底上110nm的SiO2膜层)            0.05nm (对于绒面Si基底上80nm的Si3N4膜层)

折射率

1x10-4  (对于Si基底上110nm的SiO2膜层)                  5x10-4  (对于绒面Si基底上80nm的Si3N4膜层)

光学结构

PSCA

激光光束直径

<1mm

入射角度

40°-90°可选，步进5°

样品方位调整

  • 水平XY轴调节：可测量125*125mm和156*156mm的单晶和多晶电池样品上每个点
  •  Z轴高度调节：±6.5mm
  • 二维俯仰调节：±4°
  • 光学自准直系统对准

样品台尺寸

兼容125*125mm和156*156mm的单晶和多晶电池样品

单次测量时间

0.2s

推荐测量范围

0-6000nm

外形尺寸(长x宽x高)

991 x 332 x 558mm (入射角为70o时)

仪器重量（净重）

25Kg

测试曲线

品牌/商标

赛凡光电

企业类型

制造商

新旧程度

全新

原产地

北京