Micro Pioneer X射线镀层测厚仪/膜厚仪
价格:电议
地区:广东省 深圳市
传 真:0755-82413857
特色 :
非破坏,非接触式检测分析,快速精準。
可测量高达六层的镀层 (五层厚度 + 底材 ) 并可同时分析多种元素。
相容Microsoft微软作业系统之测量软体,操作方便,直接可用Office软体编辑 。
全系列独特设计样品与光径自动对準系统。
标準配备: 溶液分析软体 ,可以分析电镀液成份与含量。
準直器口径多种选择,可根据样品大小来选择準值器的口径。
移动方式:全系列全自动载台电动控制,减少人为视差 。
独特2D与3D或任意位置表面量测分析。
雷射对焦,配合彩色CCD擷取影像使用point and shot功能。 标準ROI软体 搭配内建多种格式,亦可将数据、图形、统计等作成完整 。 光学2 0X 影像放大功能,更能对位。 单位选择: mils 、 uin 、 mm 、 um 。
优於美製仪器的设计与零件可 靠度以及拥有价格与零件的优势。
仪器正常使用保固期一年,强大的技术支援及良好的售后服务。
测试方法符合 ISO 3497 、 ASTM B568 及 DIN 50987。 韩国Micro Pioneer 还推出一款元素分析及测厚两用的XRF-2000R型号Micro Pioneer XRF-2000R X光镀层测厚仪及ROHS元素分析仪是在XRF-2000系列测厚仪的基础上增加了元素分析及有害物质检测的功能,其物点为:高分辨率,固态探测器; 可分析超薄样品分析有害物质,元素分析分之 ppm - 100%, 符合RoHS / WEEE标准测试以及ELV指令优化的应用;可测量多层镀层厚度及锡铅成分分析;电镀溶液分析;定性分析超过30种元素,能够测量液体,固体,粉末,薄膜和不规则形状;贵金属元素含量和分析(金,银,铂,和珠宝);自动过滤器,多准直仪(五个准直器,从0.1mm-3.0mm)和全自动XYZ移动样品台;性价比超强的元素分析及镀层测厚双功能分析仪器仪器尺寸:W610mm D670mm H490mm, 重量:75Kg (net) 可测量样器大小:W550mm D550mm H30mm