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产品名称：X荧光光谱仪

产品型号：NDA200

品牌：纳优

应用领域

●RoHS指令筛选检测

●无卤指令筛选检测

●玩具指令筛选检测

●合金成分分析

●金属镀层测厚

主要配置

● 美国si-pin电致冷半导体探测器

●侧窗钼（Mo）靶管

● 采用Be窗的X光管可以显著提高低能X射线出射长度

● 具备符合中国国家标准的样品混测功能

● 具备开放工作曲线技术平台

● 分析软件操作系统分级管理

产品参数

名称：X荧光光谱仪

输入电压：220±5V/50Hz

消耗功率：≤500W

环境温度:15-30℃

环境温度：≤80%（不结露）

主机外形（mm)：长*宽*高＝900*500*440

样品仓：长*宽*高＝430*380*120

主机重量:约60公斤

技术指标

测量元素范围：S-U

测量时间：对聚合物材料，典型测量时间为200秒

精密度 (Pb,Br,Cr,Hg)≤15ppm    Cd≤7ppm

准确度（Pb,Br,Cr,Hg)≤100ppm   Cd≤10ppm

对铜基材料，典型测量时间为400秒

精密度Pb≤50ppm, 准确度Pb≤150ppm

*注1：项目课题：出口机电产品国际绿色贸易壁垒应对技术及应用；子课题：支持RoHS指令的新型X荧光分析仪开发与企业应用；项目组织单位：中国机械工业联合会；课题负责人：杨李锋（纳优科技公司总经理）。

*注2：《RoHS检测用X荧光能谱仪（XRF）性能评价规范》为范围内首部用于评价能量色散X荧光光谱仪的性能的参照范本，其中包括：安全性能、仪器硬件基本性能指标及分析方法配置、精密度指标测试、准确度指标测试、典型材料（聚合物、金属等）中各种有害元素的检出限、仪器对不同基体材料测量的适应性和扩展性及其它性能参数等测试项目以及仪器性能评价步骤等，对于X荧光光谱仪生产厂家和购买仪器的用户均有实际参考指导意义。

*注3：该检测必须“一机一检”，其检测内容、方法及步骤等均以《RoHS检测用X荧光能谱仪（XRF）性能评价规范》（见注2）为准。检测也称仪器检测鉴定证书，该证书的特点就是“性”，一机一证，证书封页注明仪器出厂编号、检测编号的同时，需盖有检测执行单位赛西实验室的试验专用章、中国合格评定国家认可委员会检测专用章、MAC及MRA检测专用章；证书页盖有赛西实验室的试验专用章；整份证书需盖有赛西实验室矩形骑缝章印。

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