金属镀层分析仪技术参数:
　1.Fischerscope X-RAY XULM是采用根据技术标准DIN50987，ISO3497和ASTM B568的X-射线荧光测试方法；
　2.原始射线从下至上；
　3.X-射线管高压设定可调节至的应用：50kV，40kV或30kV；
　4.准值器组：圆直径为0.3,02；在附加费用的基础上可选择0.05X0.3mm长方形准值器与0.05X0.05方形准值器
　5.测量箱外部尺寸：（高×宽×深）510 mm×455 mm×580 mm，重量大约为45kg；
　6.带槽箱体的内部尺寸：（高×宽×深）240 mm×360 mm×380mm）带向上回转箱门；
　7.开槽式固定的工作样品平台
　8.试件查看用标准的彩色摄像机；
　9.测量开始/结束按钮，及LED状态指示灯与测试箱集成在一体

金属镀层分析仪应用方面:
罩性金属镀层厚度测量，  例如Zn；Cr；  Cu；  Ag；  Au；Sn等  合金(两样金属元素)镀层厚度测量，  例如：  SnPb；  ZnNi；  及NiP(无电浸镍)在Fe上等
合金(三檬金属元素)镀层厚度测量，  例如：  AuCuCd在Ni上等
双镀层厚度测量，  例如：Au／Ni在Cu  上；  Cr／Ni在Cu上；Au／Aq在Ni上；Sn／Cu在黄铜上等
双镀层厚度测量(其中一层是合金层)，  例如：  SnPb／Ni或Au／PdNi在青铜上等
三镀层，  例如：  Cr／Ni／Cu在塑胶或在铁上
金属成份分析，  多可以分析四种金属元素 

欲知详细内容，请您来电咨询！

深圳金东霖科技有限公司

深圳市宝安区沙井镇新桥综合大楼502

岳炎国47

    29371653

Email:kdl5158@163.com

https://www.kinglinhk.com