韩国Micro Pioneer 还推出一款元素分析及测厚两用的XRF-2000R型号Micro Pioneer XRF-2000R X光镀层测厚仪及ROHS元素分析仪是在XRF-2000系列测厚仪的基础上增加了元素分析及有害物质检测的功能，其物点为：高分辨率，固态探测器; 可分析超薄样品分析有害物质，元素分析分之 ppm - 100％, 符合RoHS / WEEE标准测试以及ELV指令优化的应用;可测量多层镀层厚度及锡铅成分分析；电镀溶液分析；定性分析超过30种元素,能够测量液体，固体，粉末，薄膜和不规则形状；贵金属元素含量和分析(金，银，铂，和珠宝)；自动过滤器，多准直仪(五个准直器，从0.1mm-3.0mm)和全自动XYZ移动样品台；性价比超强的元素分析及镀层测厚双功能分析仪器仪器尺寸：W610mm D670mm H490mm, 重量：75Kg (net)                               可测量样器大小：W550mm D550mm H30mm