技术参数

GD-Profiler系列包括2种型号，全部装备RF射频光源，每种型号均有多种选配件，用于满足不同用户的测试要求和预算。GD-Profiler2可测试多种样品，有着极高的性价比，GD-Profiler HR是目前商品化的辉光光谱仪中性能的，二者均可分析导体和非导体的固体样品。广泛应用于传统的镀锌/锡板（彩涂板）、汽车工业、航空航天、热处理（渗碳/渗氮）、陶瓷工业、玻璃工业以及当前在欧美和日本科研与工业对半导体电子（液晶面板/硬盘/芯片）、新能源（锂电池/LED/光伏）研究与分析应用可以替代原来只能依赖的SIMS(二次离子质谱)或XPS（光电子能谱仪）。与其相比之下GDS做到更高效、更快速、更经济等多方面优势，受到越来越多的科研工作者的认可与青睐，刮起一股从西方到东方席卷的辉光新风尚。
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RF射频发生器- 标准配置，符合E级标准，稳定性高，溅射束斑极为平坦，等离子体稳定时间极短，表面信息无任何失真。
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脉冲工作模式既可分析常见的涂、镀层和薄膜，也可以很好的分析热传导性能差和热易碎的涂、镀层和薄膜。
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多道(同时)型光学系统可全谱覆盖，光谱范围：110nm至800nm，包含远紫外，可分析C, H, O, N, Cl
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J Y 的原版离子刻蚀全息光栅保证了仪器有光通量，因而有的光效率和灵敏度
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HDD® 检测器可进行快速而高灵敏的检测，动态范围达到10个量级
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宽大的样品室方便各类样品的加载
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功能强大的QUANTUMT XP软件可以多种格式灵活方便的输出检测
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激光指点器(CenterLite laser pointer，申请中)可用于加载样品
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JY独有的单色仪(选配件)可极大的提高仪器的灵活性，可同时测定N+1个元素
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GD-Profiler HR 1米焦距，分辨率高达14pm，可同时分析60个元素
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GD-Profiler HR 可以附加选配1米焦距单色仪，分辨率达9pm

Denotes HR Model

主要特点

同类辉光光谱仪中的性能

J Y生产的ProfilerHR型辉光光谱仪有着的光谱分辨率，可同时检测60余种元素(包括气体元素)，尤其适合于复杂基体的分析。

仪器介绍

J Y 所生产的辉光放电发射光谱仪(RF-GD-OES)采用射频(RF)光源，可以进行导体和非导体材料的基体、表面、逐层分析，是一种快速的、操作简单的分析手段。

GDS是一种理想的表面、逐层分析工具，分析深度高达几百微米，深度分辨率可至原子

JY所生产的辉光放电光谱仪(GD)全部采用技术的HDD(High Dynamic range Detection)检测器，可以实时、自动优化工作参数，在灵敏度和动态范围不受任何损失的情况下，一个分析通道就能完全满足同一元素在不同层面内微量和主量的测定。