高薄膜测厚仪,薄膜厚度测试仪适用于2mm范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。

高薄膜测厚仪,薄膜厚度测试仪技术特征

微电脑控制、液晶显示

高接触式测量

测量头自动升降

单次、连续双重测量模式

数据实时显示、自动统计

打印值、小值、平均值及每次测量结果

可多保存100组测试结果，随时查看并打印

微型打印机，实时输出结果

历史数据查询

标准量块标定

技高薄膜测厚仪,薄膜厚度测试仪术参数

1．测量范围：0～2mm

2．分 辨 率：0.1μm

3.  测试速度:10次/min

4．测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张）

5．接触面积：50mm2（薄膜），200mm2（纸张）

   注：薄膜、纸张任选一种

6．电    源：AC 220V 50Hz

7．外形尺寸：460mm×350mm×365mm