该技术的主要特征为：利用低能X光激发待测元素，对Si、S、Al、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果，并且测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率：采用UHRD探测器，具有良好的能量线性和能量分辨率，及良好的能谱特性，较高的峰背比；采用自动稳谱装置，保证了仪器工作的一致性：利用解谱技术使谱峰分解，使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有好的分析；采用多参数的线性回归方法，使元素间的吸收、排斥效应得到明显的降低。

性能特点
  的水泥、钢铁、矿料等全元素分析，亦可用于镀层检测和RoHS检测。
  内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍。
  针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
  电制冷UHRD探测器，摒弃液氮制冷。
  智能全元素分析软件，与仪器硬件相得益彰，且操作简单。

技术指标
  测量元素范围：从钠（Na）至铀（U）
  元素含量分析范围：1ppm—99.99%
  同时分析元素：24种元素同时分析
  功能范围：水泥、钢铁、矿料等全元素分析
  分析：0.05% （对含量96%以上元素）
  测量对象状态：粉末、固体、液体
  测量时间：60s—200s 
  能量分辨率为：（150±5）eV 
  管压：5KV—50KV
  管流：50uA—1000uA

标准配置
  电制冷UHRD探测器
  信噪比增强器
  光路增强系统
  内置高清晰摄像头
  可自动切换型准直器和滤光片
  精准的升降平台
  加强的金属元素感度分析器

应用领域
  测试矿石、高炉渣、生铁、烧结矿、球团矿、白云石、膨润土、石灰石、普硅等，还可以广泛应用于铜合金、锌合金、镁合金、钛合金、钴合金、不锈钢等金属样品的成分分析。

标准配置
  单样品腔。
  正比计数盒探测器。
  信号检测电子电路。
  高低压电源。
  X光管。

应用领域
黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。
金属镀层的厚度测量和电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。