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图文详情
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产品属性
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FLBQ激光光束分析仪
1、 仪器主要功能
FLBQ激光光束质量分析系统能够测量激光光束的二维和三维分布(长短轴大小、光强的空间分布),配合精密刻度导轨能计算出激光光束的1/2发散角和1/e2发散角。不仅适用于小发散角(如固体、气体激光器等)的测量而且适用于大发散角的半导体激光器。
(1)图象获取功能
实时采集:可随时监测光束强度(功率、能量)的二维分布、给出三维分布图及通过光束内任一点的沿X-Y方向的光强分布曲线,并显示直径等参数。
图象“冻结”:可根据需要捕获典型的光束图象,作为TIFF文件存贮,供分析处理。
连续及脉冲图象的“抓取”:具有“软触发”功能,其软触发阈值可以调节。它不需要触发电脉冲,增加了使用的方便性和安全性,特别是对于Q开关脉冲激光器的场合,由于不需要电脑与激光器之间的电信号相接,减小了硬件损坏及相互干扰的可能性。
(2)分析测量功能
二维光束截面功率、能量分布;
光束截面功率、能量的三维图(任意方位角,俯仰角);
通过光束截面内任一点沿X,Y方向的光强分布;
不同定义下的光束直径及与高斯分布的符合程度;
(3)其它功能
自动反差调整功能
快速连续取、放多幅图象
打印功能——将屏幕上显示的内容或被选取的部分“所见即所得”地打印出(可与激光、喷墨等多种型号打印机适配)。
2、 主要技术指标
a) 测试波长范围:(可选);
型号 |
波长测量范围(nm) |
发散角测量 |
激光功率(W) | |
FLBQ-400-1100 |
400-1100 |
<5% |
100W | |
FLBQ-400-1550 |
400-1550 |
<5% |
100W | |
FLBQ-190-1310 |
190-1310 |
<5% |
100W | |
FLBQ-1440-1605 |
1440-1625 |
<5% |
100W | |
FLBQ-900-1700 |
900-1700 |
<5% |
100W | |
FLBQ-400-2200 |
400-2200 |
<5% |
100W | |
b) 测试激光功率范围:0.01mW~100W (CW);
c) 测试激光工作模式:连续和脉冲模式兼容;
d) 测量光斑半径: 30mm;
e) CCD分辨率:>400万像素;
f) 测试激光光束的二维、三维分布;
g) 测量暗箱采用吸光材料,以消除杂光干扰;
h) 光学元件置于光学精密调节架上,以保证其平稳调节;
i) 光学暗箱外形尺寸:
3、 光路原理
(1)原理框图
激光器 |
光学暗箱 |
显示器 |
PC机: 图像采集卡 系统软件包 |
(2)暗箱光路
4、主要配置
部件名称 |
数量 |
型号或功能描述 |
计算机主机 |
1 |
采用pc机,内置显卡、声卡、预装WinXP操作系统 |
显示器 |
1 |
19英寸液晶显示器 |
CCD1 |
1 |
适合于400-1100nm测试 |
CCD2 |
1 |
可选。 |
图像采集卡 |
1 |
数据采集。 |
软件包 |
1 |
用于测试数据处理 |
精密测试道轨 |
2 |
用于器件固定与移动 |
中性滤光片 |
3 |
用于衰减大功率激光(三片,拧到CCD上直接使用)。 |
附加滤光片(整套) |
1 |
补充衰减 |
镜头 |
1 |
CCD专用(需配合投射屏使用) |
导轨与支架(整套) |
1 |
用手移动光学器件,测试距离。固定光学器件等 |
红外感光卡片 |
1 |
用于调试光路 |