无接触式厚度电阻率测量仪
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产品属性
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硅片要求 规格: 方片125×
圆片 3"、4"、5"、6"、8"
测量功能 厚度: 单点及多点厚度
TTV: 总厚度偏差
体电阻率: 单点及多点电阻率
TRV: 总体电阻率偏差
测量指标 厚度 范围: 150-1000μm
测量误差: ≤±1.0μm
重复性1σ: ≤0.2μm
TTV 范围: 0.0-200.0μm
测量误差: ≤±0.50μm
重复性1σ: ≤0.2μm
电阻率 范围: 0.1-30Ω.cm
测量误差: ≤±3.0%*R
重复性1σ: ≤1.5%*R