SunScan 冠层分析系统
价格:电议
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用途:

SunScan冠层分析系统通过测量作物冠层PAR值提供了关于影响田间作物生长的限制因素的有价值的信息,如叶面积指数(LAI)。SunScan探测器也可被用来描绘作物冠层PAR的分布图。

 

原理:

根据冠层吸收的Beer法则、WoodSunScan冠层分析方程以及Campbell的椭圆叶面角度分布方程 (Campbell’s Ellipsoidal LAD equations),使用光量子传感器来测量、计算和分析植物冠层截获和穿透的光合有效辐射及叶面积指数。

软件计算

Sunscan系统主要是通过测量冠层截获的光合有效辐射量(PAR)来计算叶面积指数(LAI),软件中涉及到的参数有:

直射和散射入射辐射光、叶面积指数、叶片透光率、叶倾角、天顶角、穿透辐射。在这几个参数中,天顶角是根据当地的时间、经度和纬度来计算的,叶片透光率和叶倾角是需要用户自己估计的,其他的参数都是直接测量得出的。

组成:

l            SS1探头:一支1长,内嵌64个光合有效辐射传感器的的探测器

l            SunData软件:用来对测量参数进行分析处理

l            BF3传感器:可计算出作物冠层PAR以及直射光与漫射光的比例关系。减少太阳变化对测量造成的影响

l            三角架:用来安放BF3

l            数据采集终端:一种采集和分析读数的高效、轻便的掌上电脑。

基本技术指标:

SS1探测器

探测器工作区域

1000×13mm宽,传感器间距15.6mm

探测器光谱响应

400 ~ 700nm (PAR)

探测器测量时间

120ms

探测器分辨率

0.3μmol. m-2.s-1

探测器读数

2500μmol.m-2.s-1

操作温度

0 ~ 60

BF5

PAR测量范围

0-2500μmol.m-2.s-1(总的和散射)

PAR

总辐射

±10μmol.m-2.s-1±12%

散射

±10μmol.m-2.s-1±15%

工作温度

-20+50

太阳总辐射测量范围

0-1250 W/m2

总辐射

总辐射

±5 W/m2 ±12%

散射

±20 W/m2±15%

光照度测量范围

0-200klux

光照度

总辐射

±0.6klux±12%

散射

±0.6klux±15%

电缆长度

标准为10

RPDA1手持终端

屏幕

1/4VGA屏幕,太阳光下依然显示清晰

操作系统

Windows Mobile6

显示项目

LAIPAR平均值、每个传感器的读数

手持终端工作环境

IP67防护等级,-30-60

1手持终端存储

支持>100M

产地: 英国

产品详细信息请查询网站www.harvestchina.com.cn 或拨打电话:

本公司还提供SunScan无线冠层分析系统

 

企业类型

贸易商

新旧程度

全新

原产地

英国