CM-8826分体化传感器涂层测厚仪
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CM-8826分体化传感器涂层测厚仪
功能: 测量导磁物体上的非导磁涂层和非磁性金属基体上的非导电覆盖层的厚度
测量方法:F 磁感应 NF 涡流
测量范围:0~200um/500um/1000um/~15000um
分辨率:0.1/1
小测量面积:6mm
薄基底:0.3mm自动关机
使用环境:温度:0-40℃ 湿度:10-90%RH
准确度:±(1~3%n)或±2um
公制/英制:可选择
电源:4节7号电池
电池电压指示:低电压提示
外形尺寸:126X65X27mm
重量:81g(不含电池)
测量范围可选:0-200um to15000um
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