Planum-3000全自动光学元件光谱分析仪
价格:电议
地区:广东
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全自动光学元件光谱分析仪

型号:Planum-3000
用途:用于各类平面光学元件的反射、透射光谱快速测量。可进行多角度相对/
反射率、透过率测量,偏振光测量,膜性测量。
全自动光学元件光谱分析仪-适宜测量范围:棱镜、平行平板、镜面等平面光学性能。
 
全自动光学元件光谱分析仪-技术参数:
 
类别I型II型III型
探测器Sony ILX511 x线形CCD 阵列Sony ILX511 x线形CCD 阵列Hamamatsu  S7031背照式2D-CCD
检测范围380-1000nm380-1100nm360-1100nm
波长分辨率<1.35nm<1.35nm<1.35nm
信噪比(全信号)250:1250:11000:1
相对检测误差<0.6%(400-800nm)<0.6%(400-800nm)<0.2%(400-800nm)
操作方式手动电动电动
角度分辨率0.1º<0.0002º<0.0002º
重复定位:-<0.005º<0.005º
旋转速度:-25º/s25º/s
透射/反射测量角>8º,<80º,可扩展到5º
单次测量时间<100ms
S/P光测量可以
样品尺寸>5mm
操作系统/接口Windows XP  Vista /USB2.0
产品尺寸1020mm*485mm*300mm
功率/电源:100W/220V-50HZ
其他可自定义打印报表格式,开放式光学材料光坯反射率数据库