Planum-3000全自动光学元件光谱分析仪
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全自动光学元件光谱分析仪 型号:Planum-3000 用途:用于各类平面光学元件的反射、透射光谱快速测量。可进行多角度相对/ 反射率、透过率测量,偏振光测量,膜性测量。 全自动光学元件光谱分析仪-适宜测量范围:棱镜、平行平板、镜面等平面光学性能。 |
类别 | I型 | II型 | III型 |
探测器 | Sony ILX511 x线形CCD 阵列 | Sony ILX511 x线形CCD 阵列 | Hamamatsu S7031背照式2D-CCD |
检测范围 | 380-1000nm | 380-1100nm | 360-1100nm |
波长分辨率 | <1.35nm | <1.35nm | <1.35nm |
信噪比(全信号) | 250:1 | 250:1 | 1000:1 |
相对检测误差 | <0.6%(400-800nm) | <0.6%(400-800nm) | <0.2%(400-800nm) |
操作方式 | 手动 | 电动 | 电动 |
角度分辨率 | 0.1º | <0.0002º | <0.0002º |
重复定位: | - | <0.005º | <0.005º |
旋转速度: | - | 25º/s | 25º/s |
透射/反射测量角 | >8º,<80º,可扩展到5º | ||
单次测量时间 | <100ms | ||
S/P光测量 | 可以 | ||
样品尺寸 | >5mm | ||
操作系统/接口 | Windows XP Vista /USB2.0 | ||
产品尺寸 | 1020mm*485mm*300mm | ||
功率/电源: | 100W/220V-50HZ | ||
其他 | 可自定义打印报表格式,开放式光学材料光坯反射率数据库 |