激光粒度仪HELOS-R系列
价格：电议
地区：江苏省
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图文详情
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产品属性
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仪器简介：
技术参数：
主要特点：
HELOS/R系列是在原来的HELOS系统上增加了新的设计，使仪器更适应广大用户的需求。
1.可选用多个镜头测试——通过软件可多选择7个镜头进行测试，每个都使用特殊设计，保证的测试的同时解决测试范围的问题。
2.加入了新的计算模式——可选，结合2-7个分镜头测试结果为一个粒度分布。
3.加速了镜头转换的速度——刚性全金属外壳结合高光学平台，允许激光传感器在任何方向的操作
HELOS传感器系列的应用如下：
| 模块 | 测试区域 | 应用 | |||
| HELOS | /BR | 0.1 - 875 µm | off-line / at-line | ||
| /KR | 0.1 - 3500µm | off-line / at-line | |||
| VARIO | /KR | 0.1 - 3500µm | off-line / at-line | ||
| MYTOS | 0.25 - 3 500 µm | on-line / in-line | |||
技术参数：
| 激光传感器: | HELOS | BR: 0.1 µm - 875 µm KR: 0.1 µm - 3500 µm VARIO: 0.1 µm - 3500 µm |
| 原理: | 激光衍射 | λ = 632,8 nm |
| 分散 | 适应性模块设计 | 气体分散, 喷雾, 悬浮液, 乳浊液 |
| 测试: | 多元探测器频率 | 31 个半圆形元素 扫描速率：2000次/秒, 自动对焦 |
| 计算模式: | Fraunhofer Enhanced Evaluation FREE，费氏理论 | Mie Extended Evaluation MIEE可供选择，米氏理论 |
| 镜头: | 光学模块 | R1 - R8 |
| 性能: | 重复性 | σ< 0.04% (同一产品单次取样重复测试结果的误差) σ< 0.3% (同一产品分次取样测试结果的误差) |
| 操作软件: | WINDOX 软件 | WINDOWS 7 / Vista Prof. / XP Prof. |
| 应用: | 激光光源 光束直径(1/e²) | 5 mW 3A/IP40 R1 & R2 : 2.2 mm R3-R5: 13 mm R6 & R7: 26 mm R8: 35mm |
| QA-系统 | 标准样 确认 | 标准测试程序 SiC - F1200 (x50 = 4.5 µm) SiC - P600 ( x50 = 27µm) SiC - P80 (x50 = 260 µm) SiC - P50 (x50 = 430µm) FDA 验证 |
主要特点：
激光传感器HELOS/BR结合干法/湿法分散模块/样品取样模块进行粒度分析的测试范围是0.1 µm 到 875µm (HELOS/KR, HELOS-VARIO/KR到3500 µm).
1.平行光路设计——光路系统
2.分段量程+镜头组合量程——测试范围广的同时保证分辨率
3.高全自动对焦系统——激光束中心、镜头中心和多元探测器中心三点始终在一直线上