仪器简介：
BRIMROSE高速AOTF近红外薄膜分析仪具有极好的准确率，为了优化生产过程，仪器可以放置在生产线内，对于能够准确分析监测薄膜或者涂层是很重要的。仪器可以被用于在线规格确认，薄膜或纸张上的单层或多层涂层厚度，分析和评价涂层或纸张的化学成分，对残留溶液的监测，加工时间，等。

AOTF-近红外薄膜分析仪完全不受外界光，振动，灰尘，污垢的影响，是值得信赖的仪器，在生产环境中无需维护费用。新颖的光学头设计使得薄膜或者涂层的测量对于质量控制是一种有效的节约费用方法。

BRIMROSE LUMINAR 系统紧密设计具有无接触固态传感器，按照所需的行业使用，提供快速全谱扫描。仪器可以被安装在滑竿上，通过网络扫描或者可以被用于统计的斑点测量。对于快速和自动的过程调整，BRIMROSE AOTF-NIR 可以和PLC或DCS连接。利用在线AOTF-NIR过程分析仪进行产品分析，为全世界许多客户节省了大量时间和财力。



技术参数：
1、双光束、预校准灯源总成，
2、InGaAs检测器，
3、嵌入式计算机，调制解调器，以太网接口，
4、使用Brimrose宏语言的SNAP!™分析软件，
5、16,000 波长点/秒，
6、微型集成电学模块安装在光学模块上。
7、电源： 12VDC, 90 W; 90-230 VAC, 90 W.

主要特点：
非接触，非破坏测量基层材料和涂层的化学和物理性质