【产品介绍】

技术参数：

1.分辨率:

　二次电子:

　　高真空模式3.0nm @ 30kV, 8nm @ 3kV

　　高真空减速模式7nm @ 3kV (可选项)

　　低真空模式3.0nm @ 30kV, 10nm @ 3kV

　　环境真空模式3.0nm @ 30kV

　背散射电子4.0nm @ 30kV

2.样品室压力达2600Pa

3.加速电压200V～30kV，连续调节

4.样品台移动范围

Quanta 250: X=Y=50mm

Quanta 450: X=Y=100mm

Quanta 650: X=Y=150mm

主要特点：

1.FEI EM(环境扫描电镜)技术,可在高真空、低真空和环境真空条件下对各种样品进行观察和分析。

2.真空条件下的二次电子、背散射电子观察和微观分析。

3.的系统结构平台，全数字化系统。

4.可同时安装能谱仪、波谱仪和EBSP系统。

5.可安装低温冷台、加热台、拉伸台等进行样品的原位、动态观察和分析。