半导体老化试验机的详细信息

• 类型：精密老化箱
• 材质：不锈钢烤漆 镀锌
• 温度范围：100℃～250℃（℃）
• 功率：5500（W）
• 工作室尺寸：单门式：W800×H1800 双门式：W1600×H1800（mm）
• 电源：AC380V 50/60HZ
• 适用范围：IC，集成电路，半导体器件

型号SPEC-BX容积温度范围100℃～250℃温度稳定度±0.5℃温度分布均匀度±1%F.S.℃升温时间依箱体大小而定内箱尺寸依客户要求外箱尺寸依客户要求箱门尺寸单门式：W800×H1800双门式：W1600×H1800结构材质拆装组合步入库板：采钢板喷塑保温材质硬质发泡及玻璃棉加热系统不锈钢散热式加热器保护装置无熔丝开关，冷媒高压保护开关，超温保护开关，加热干烧，烟雾控制警报系统电源1PAC220V±10% 50/60HZ&3PAC380V±10% 50/60HZ标准配件玻璃视窗，操作室内灯选购配件电源供应器，测试台车项目IC TESTING SYSTEM预烧机板60pcs（250℃）40pcs（250℃）接线端24pin/900pcs(250℃)24pin/600pcs(250℃)定电流范围DC0.0～100.00A测试定电流解析度0.1/0.01/0.001mA三档（自动跳档）测试电压DC0.0～12.0V测试电阻1/0.1/0.01ohm三档（自动跳档）扫描记录时间0.05SEC/CHANNEL量测度≤±0.5%（0-1Kohm）项目Software主要功能可测量电流，电压，电阻值/每个CHANNEL可独立设定电流值/提供pre-check功能/1200个channel于60秒内扫描读取完成，自动判断故障点。