EV手动型系列二次元影像测量仪
价格：电议
地区：浙江省乐清市
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传 真：0577 27890732
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图文详情
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产品属性
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EV手动型系列二次元影像测量仪的详细信息
EV系列光学影像测量仪采用本公司开发的精密多段倍率，超低变形，远心光学设计的变焦镜头，配上本公司专为光学测量而设计的专用DSP1/2"CCD彩色影像系统，将被测工件的表面纹理清晰细致地显现，轮廓层次分明，无误地放大20－125倍作精密测量
EV系列光学影像测量仪以高的大理石作机身的支架，配上高工作台，X/Y/Z三轴均装有分辨率为0.001mm的的光学尺测量系统，X/Y/Z轴的量测高达（3 L/200）um。
EV系列光学影像测量仪配备由本公司自行开发，功能强大，使用简单的全功能测量软件，测量结果可以图档DXF格式输出至各类通用的CAD软件，如AUTOCAD，MASTERCAM等等，方便用户使用于抄数应用，相反地，用户也可将DXF格式的图档输入至本公司的测量软件内，作直观测量比较。
EV系列光学影像测量仪配备本公司自行开发，使用简单的SPC统计分析软件，使用户可以轻松对其加工流程进行科学化分析，从而轻易地找出流程中的误差趋势，以及工序中存在的问题。所有测量结果均可输出至通用的办公软件，如EXCEL，WORD等格式，方便用户保存，编制质量检查，或作进一步的处理。参数型号EV-2515EV-3020EV-4030 量测行程(X/Y/Z)250X150X150mm300X200X200mm400X300X250mm外形尺寸
(长宽高)100X60X40cm120X72X160cm120X72X160cm机身重量170kg280kg410kg重复性2um机台承重量30kg操作方式手动量测分辨率0.001mmX/Y/Z轴
测量(3 L/200)um光源系统全电脑程控,USB控制四路上光源,直轴可调下光源平台结构00级花岗石机台及立柱精密测头
(选配)英国Renishaw高接触式精密测头镜头超低变形,多段分辨率远心光学设计镜头(Telecetric Lens)放大倍率光学放大倍率0.7-4.5X,影像放大倍率20X-125X标准电脑配置C4/2.4G/256M内存/40G硬盘 17"寸CRT显示器影像系统Easson高解析度CCD影像头(1/2"SONY CCD Sensor)及支专用DSP
EV系列光学影像测量仪采用本公司开发的精密多段倍率，超低变形，远心光学设计的变焦镜头，配上本公司专为光学测量而设计的专用DSP1/2"CCD彩色影像系统，将被测工件的表面纹理清晰细致地显现，轮廓层次分明，无误地放大20－125倍作精密测量
EV系列光学影像测量仪以高的大理石作机身的支架，配上高工作台，X/Y/Z三轴均装有分辨率为0.001mm的的光学尺测量系统，X/Y/Z轴的量测高达（3 L/200）um。
EV系列光学影像测量仪配备由本公司自行开发，功能强大，使用简单的全功能测量软件，测量结果可以图档DXF格式输出至各类通用的CAD软件，如AUTOCAD，MASTERCAM等等，方便用户使用于抄数应用，相反地，用户也可将DXF格式的图档输入至本公司的测量软件内，作直观测量比较。
EV系列光学影像测量仪配备本公司自行开发，使用简单的SPC统计分析软件，使用户可以轻松对其加工流程进行科学化分析，从而轻易地找出流程中的误差趋势，以及工序中存在的问题。所有测量结果均可输出至通用的办公软件，如EXCEL，WORD等格式，方便用户保存，编制质量检查，或作进一步的处理。参数型号EV-2515EV-3020EV-4030 量测行程(X/Y/Z)250X150X150mm300X200X200mm400X300X250mm外形尺寸
(长宽高)100X60X40cm120X72X160cm120X72X160cm机身重量170kg280kg410kg重复性2um机台承重量30kg操作方式手动量测分辨率0.001mmX/Y/Z轴
测量(3 L/200)um光源系统全电脑程控,USB控制四路上光源,直轴可调下光源平台结构00级花岗石机台及立柱精密测头
(选配)英国Renishaw高接触式精密测头镜头超低变形,多段分辨率远心光学设计镜头(Telecetric Lens)放大倍率光学放大倍率0.7-4.5X,影像放大倍率20X-125X标准电脑配置C4/2.4G/256M内存/40G硬盘 17"寸CRT显示器影像系统Easson高解析度CCD影像头(1/2"SONY CCD Sensor)及支专用DSP