影响测量仪VMS-1510/VMS-2010的详细信息

二次元影响测量仪


产品说明:
精密件零显微测量系统
 


         精密件零显微测量系统SK2010是一套集合了数位科技成果与计算机屏幕测量技术的数码投影测量系统，它应用了独有的双向同步倍率校正技术（）, 采用独特同轴光、底光、侧光设计和具有投影与正像两种成像方式,可以测量在75*75mm范围内的零件局部（15*15mm）.测量为±2um,调节倍率在20x－80x之间,解析度0.001mm.能够有效的解决了器件的误差和屏幕的局限和满足各种测量倍率的要求.产品已经达到业内科技的水平;是针对精密零件制造业日益精湛的加工工艺所带来的计量需求开发而成.


性能：
 



◆  独有的双向倍率同步技术 

◆     自动扫描收集数据

◆     20x－80x调节倍率可满足各种测量对倍率要求

◆     具有投影和正像两种成像方式

◆     具有消场曲和消畸变的成像特质

◆     独特同轴光、底光、侧光设计

◆      采用sony原厂CCD摄像头

◆      ＳＫＤ－ＣＬ２软件系统可进行各种图像测量和处理

◆     支持多种格式,可进行图像存储、打印、编辑、发送、格式化等.

 

技术参数：
 


型号
 2010
 
显示方式
 电脑 监视器 液晶屏 电视机
 
工作距离
 90mm－140mm
 
测量范围
 0.01mm－15mm
 
工作倍率
 20x－80x
 
解析度
 0.001mm
 
照明光源
 同轴光、底光、侧光
 
图像器件
 Sony原厂CCD摄像头
 
图像输出
 Av信号或USB接口