5200T
可焊性测试仪(沾锡天平)适用于Wetting Balance 与 Dip andLook
的测试与评价,5200T可针对助焊剂、焊锡等焊接材料以及各种电子元器件、PCB的可焊性进行测试与评价。 近年来被广泛应用于无铅焊料(Lead-free Soldering)的开发研究及生产工艺技术与品质管理的提高。 5200T的特性就是仪器本身的稳定性与灵敏度及其测试的高度的一致性、减轻测试负担的同时、得到更好更的再现性、可广泛运用于不同领域里的可焊性及润湿性的测试与评价。
5200T
可焊性测试仪(沾锡天平)
适用国际、国家、行业规格标准 • IEC 60068-2-54 • JIS C
60068-2-69 • JEITA ET-7401 • IEC 60068-2-69 • JIS C 60068-2-54 • JEITA
ET-7404 • IPC/EIA J-STD-002B • JIS Z 3198-4 • JEITA ET-7411 • IPC/EIA
J-STD-003B • JIS C 0099 • 自定规格可设定 • MIL STD 883
Micro电子天平: 改良的Micro电子天平搭乘控制系统可自动进行零调整,减少了测试负担,自动显示天平的平衡状态,从而达到天平终自动调平的状态,这种新型Micro电子天平能加快润湿力的应答速度,进一步提高了测试结果的再现性,使动态润湿力与时间的分解能达到0.01mN以下。
磁性样品夹具: 改善了样品夹具的装接性能,用磁性夹具将样品固定在主机的连接处,确保样品开始测试的位置,从而得到更的再现性。
5200T主机单体测试与使用PC测试: 为了增强了主机的单独测试性能,搭载了触摸屏,不但可以设定各项条件,还可以同时看到相应的测试数据及曲线分析,也可以与PC并用测试,使其达到更好的分析能力。 为了能确保更好的再现性,采用了Micro微调与基点定位
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