膜厚测量仪ST2000-DLXn
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产品品牌:
K-MAC科美仪器
产品型号:
ST2000-DLXn 
测量范围:
depends on film type

  • 技术参数
  • 活动范围 150 x 120mm(70 x 50mm 移动距离)
    测量范围 200Å~ 35㎛(根据膜的类型)
    光斑尺寸 20㎛ 典型值
    测量速度 1~2 sec./site
    应用领域 聚合体: PVA, PET, PP, PR ...

    电解质: SiO2 ,TiO2 , ITO , ZrO2 , Si3N4 ..

    半导体: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS...

    选择 参考样品(K-MAC or KRISS or NIST)
    探头类型 三目探头
    nosepiece Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt
    照明类型 12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer

    • 主要特点
    • 尺寸 190 x 265 x 316 mm
      重量 12Kg
      类型 手动的
      测量样本大小 ≤ 4"
      测量方法 非接触式
      测量原理 反射计
      特征 测量迅速,操作简单

      非接触式,非破坏方式

      的重复性和再现性

      用户易操作界面

      每个影像打印和数据保存功能

      可测量多达3层

      可背面反射

    • 仪器介绍
    • 1996年以来,科美在半导体,平板显示器,电子物质,生命科学和化学分析上,研发和提供了独特的,先进的解决方案。科美,作为测量和分析技术市场上的领头和动力,以它突出的表现得到了世界范围的认可。