LCR测试仪3532-50基本±0.08%，42Hz～5MHz的测试频率，5ms高速测量，测量14种参数，能提供与元器件工作条件更为接近的测试条件。可很容易地测试被测物在高频量程内的特性。操作非常简便，改变设置时通过触模屏幕，所需的设定选项会顺序排列显示出来
LCR测试仪3532-50利用外部I/O接口,事先将登录的测量条件输入,进行不同测量条件的样品选择/评估。通过改变测量条件,登录恰当的测量条件、比较条件,相对同一样品也可进行连续测量。用一台测量仪,构筑于多品种的自动化生产线,实现快5ms的高速测量。
LCR测试仪HIOKI 3532-50性能特点:
测试|Z|, L, C, R
测试源频率42Hz～5MHz
高速测量: 5ms
搭配宽幅测试频率的阻抗测试仪
测试频率可在42Hz～5MHz宽广频率量程内以4位度自由调整
可很容易地测试被测物在高频量程内的特性。操作非常简便，改变设置时通过触模屏幕，所需的设定选项会顺序排列显示出来