EXF8000S光谱贵金属分析仪使用高效而实用的正比计数盒探测器，以之前的EXF7800价格定位，满足贵金属的成分检测和镀层厚度测量的要求，且全新的更具有现代感的外形、结构及色彩设计，使仪器操作更人性化、更方便。
光谱贵金属检测仪性能特点
贵金属检测、镀层厚度检测。
智能贵金属检测软件，与仪器硬件相得益彰。
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序。
技术指标
元素分析范围：从钾（Na）到铀（U）。
测量对象：固体、粉末
分析检出限可达：1000ppm。
测试：±1000ppm～0.2%。
多次测量重复性可达：0.1％。
长期工作稳定性为：0.1％。
测金机标准配置
单样品腔。
正比计数盒探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
外观尺寸： 450×660×285mm
重量：35kg
整体设计
集成工业计算机在设备机箱内，无需外接计算机
西凡光谱仪应用领域
黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。
金属镀层的厚度测量和电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。
售后服务
全国范围内送货上门，上门安装、培训，产品严格实行国家仪器仪表"三包"：一年保修，三个月包换，终生维护，接到报修电话一小时内响应。