LED快速EL特性测试系统M2442S-9A1.2〞GaN晶圆/外延片测试；测试VF、亮度、波长、半波宽等2.LED Wafer平均分布9点位置测量，产线中端QC利器3.自动/半自动测量模式，30秒内自动测试完9点之数据4.搭配台湾维明LED测试机，光电参数全部测量5.软件功能强大，自动保存设定参数与测量数据，光谱图等6.大面积探针防止人工点铟ball误差，保护光罩防止背景光? 误差?????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????? 7.模块化结构，可灵活搭配客户自备的LED测试仪进行整合以上是LED快速EL特性测试系统的详细信息，如果您对LED快速EL特性测试系统的价格、厂家、型号、图片有什么疑问，请联系我们获取LED快速EL特性测试系统的新信息。