产品详情大图
日本大塚(OTSUKA)电子膜厚测定仪
价格：电议
地区：广东省 深圳市
电 话：+86-0755-8204-7754
手 机：13798387721
传 真：0755-8204-7757

深圳蓝龙（香港）有限公司

免费会员 营业执照未上传

>
全部产品 进入商铺
  • 紫外到近紅外光領域的反射光譜，適用於多層膜量測、光學常數分析的光干涉式膜厚儀。
  • 以光為量測媒介，非接觸式、不破壞樣品的高再現性。
  • 190nm~1600nm的大範圍波長解析。
  • 1nm~250μm薄膜到厚膜的全般對應。

可對應顯微鏡下的微小量測範圍。


 平面顯示器
   ?液晶顯示器、薄膜電晶體、OLED
 半導體、化合物半導體
   ?矽半導體、半導體雷射、強誘電、介電常數材料
 資料儲存
   ?DVD、錄影機讀取頭薄膜、磁性材料
 光學材料
   ?濾光片、抗反射膜
 平面顯示器
   ?液晶顯示器、薄膜電晶體、OLED
 薄膜
   ?抗反射膜
 其它
   ?建築用材料

薄膜專用型 厚膜專用型
膜厚量測範圍 1 nm ~ 40 μm 0.8 ~ 250 μm
長量測範圍 190 ~ 1600 nm 750 ~ 850 nm
感光元件 光電二極管陣列 512ch 矩陣型CCD影像感測器 512ch 光電二極管陣列 512ch
光源規格 D2/I2（紫外-可視光）、D2（紫外光）、I2（可視光）
 I2（可視光）
電源規格 AC100V±10V 750VA（自動平台驅動部分）
尺寸 481（H）×770（D）×714（W）mm（主體部分）
重量 約96kg（主體部分）

品牌/商标

OTSUKA

新旧程度

全新

原产地

日本