低相位差高速检查机 RE-100

?         产品特色：

 可测量从0nm开始的低相位差（残留应力）。

 检测光学轴的同时，同步高速测量相位差 (Re.)。
(0.1秒以下的高速同时量测)

 偏光检测仪无任何驱动组件干扰，可提高再现性量测。

 无需复杂参数设定，操作简单易懂。

 550nm以外，亦可支持其它波长量测。

 Rth量测、全角度量测。(需搭配自动旋转倾斜装置)

 搭配拉力测试机可同时量测薄膜偏光特性与光弹性。
(此系统为特殊规格)

?         测量原理：

RE-100，系采用光结晶像素与CCD感光组件所构成的偏光检测仪。搭配带有穿透率特性的各种偏光组件，可以高速同时进行相位差与光学轴的量测。

CCD感光组件会自动撷取经过偏光后所呈现的画面进行解析。相较以往，不需要再使用任何的驱动组件来寻找偏光后的受光强度。不但可提高再现性的、更具备长时间使用的安定性。

?         测量原理：

?         应用范围：

■ 相位差膜、偏光膜、椭圆膜、视野角改善膜、各种机能性薄膜、

■ 树脂、玻璃等透明带有低相位差之样品(残留应力)

?         规格样式：

^*1可选择其它波长  ^*2量测水晶波长板之(约55nm，2枚型)

?         测量实例：

■ 视野角改善膜 A
■ 视野角改善膜 B

偏光检测仪在生产在线的应用 (In-line Process)

■ USB传输，可适用于多种环境的架设。
■ 超高速量测，适用于生产线中的实时监控。
■ 可搭配复数偏光检测仪，同时进行多点位、多角度(Rth)量测。