紫外、可见、近红外光分光光谱仪 MCPD-3700
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地区:广东省 深圳市
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?       紫外、可见、近红外光分光光谱仪 MCPD-3700

产品特色:

 紫外到近红外光领域的量测范围。

 搭配多元的选配附件,量测对象与环境不受限制,适用于各领域的量测。

 16msec的高速光谱解析。

 显微分光、发光光源、表面反射等光谱量测,与专用软件的搭配组合,用途多元。

 提供架设于制程在线(In-line)的及时监控规划。

测量项目:

发光光谱量测

穿透率、吸收率光谱量测

反射率光谱量测

荧光量测

物体色量测

光源色量测(色度、辉度、照度)

膜厚量测

规格样式:

 

28C

310C

3595C

SC

波长范围*1

200 ~ 800 nm

300 ~ 1000 nm

350 ~ 950 nm

380 ~ 780 nm

分光组件

光栅分光, F=3f=135mm

波长*2

±0.3 nm

±0.5 nm

±0.3 nm

±0.3 nm

感光组件*3

光电二极管数组(电子冷却)

512ch

1024ch

512ch

1024ch

512ch

1024ch

512ch

1024ch

解析能力

1.2nm

0.6nm

1.7nm

0.9nm

1.3nm

0.6nm

0.9nm

0.5nm

曝光时间*4

16msec 20sec

光纤规格

石英制,金属包覆,固定口径∮12mm,长约1m

通讯接口

USB or LAN

尺寸重量

300W x 170H x 350Dmm,约10kg

*1 搭配光纤时为220~800nm    *2 波长校正用光源对汞物理辉线之确认值    

*3 可选择512ch 1024ch         *4 感度设定为Normal

 

 

 

 

选配附件:

光学配件
光纤
量测平台
量测光源
专用软件
其它

应用举例:

发光光谱分析仪系统
反射光谱分析仪系统
穿透、吸收光谱分析仪系统
色度光谱分析仪系
光源光谱分析仪系统(色度/辉度/照度)
膜厚光谱分析仪系统
荧光光谱分析仪系统
双折射相位差光谱分析仪
微光学组件光谱分析仪系

品牌/商标

OTSUKA

企业类型

贸易商

新旧程度

全新

原产地

日本Japan