产品特性：紫外到近紅外光范围的反射光谱，适用用于多层膜测量及光学常数分析的光干涉式膜厚测量仪。??非接触式、不破坏样品，高，高再現性。??190nm~1600nm的范围波長分析。??1nm~250μm薄膜厚度测量。??可对应显微镜下的微小测量范围。?测量项目： 反射率分析 多层膜膜厚解析 光学常数解析（n:折射率，k:衰減系数） ?应用范围：■?平面显示器液晶显示器、导电薄膜、OLED■半导体、化合物半导体矽半导体、激光半导体、強导电、介电常数材料■数据储存材料DVD、录影机读取头薄膜、磁性材料■光學材料滤光片、抗反射膜■薄膜抗反射膜■其它建筑用材料??以上是膜厚测量仪的详细信息，如果您对膜厚测量仪的价格、厂家、型号、图片有什么疑问，请联系我们获取膜厚测量仪的新信息。