反射式膜厚测量仪类型 薄膜测厚仪品牌 OTSUKA型号 FE-3000测量范围 1nm-250μm（mm）?外形尺寸 481（H）×770（D）×714（W）（主体部分）（mm）?产品特点?紫外到近红外光领域的反射光谱，适用于多层膜量测、光学常数分析的光干涉式膜厚仪。以光为量测媒介，非接触式、不破坏样品的高再现性。190nm~1600nm的大范围波长解析。1nm~250μm薄膜到厚膜的全般对应。可对应显微镜下的微小量测范围。?测量项目反射率分析多层膜解析光学常数解析（n:屈折率，k:衰减系数）?应用范围平面显示器　液晶显示器、薄膜晶体管、OLED半导体、化合物半导体　硅半导体、半导体雷射、强诱电、介电常数材料数据储存　DVD、录像机读取头薄膜、磁性材料光学材料　滤光板、抗反射膜平面显示器　液晶显示器、薄膜晶体管、OLED薄膜　抗反射膜其它　建筑用材料?规格????????????????????? ?标准型????????????????????????? 厚膜对应型膜厚量测范围?1 nm ~ 40 μm???????????? 0.8 ~ 250 μm?波长量测范围?190 ~ 1600 nm???????????? 750 ~ 850 nm ?感光组件????? 光电二极管数组 512ch???? 矩阵型CCD影像传感器 512ch?光源规格????? D2/I2（紫外-可视光）、D2（紫外光）、I2（可视光）I2（可视光）电源规格????? AC100V±10V 750VA（自动平台驱动部分）尺寸????????? 481（H）×770（D）×714（W）mm（主体部分）重量????????? 约96kg（主体部分）?测量实例玻璃上的二氧化钛膜厚、膜质分析以上是反射式膜厚测量仪的详细信息，如果您对反射式膜厚测量仪的价格、厂家、型号、图片有什么疑问，请联系我们获取反射式膜厚测量仪的新信息。