技 术 参 数  1、 仪器尺寸：686(W)x464(D)x390 (H)mm        2、 样品腔尺寸：小样品腔：300*300*100mm；             大样品腔：无限制，小于30公斤3、 重量：约50Kg4、 工作环境温度：温度15—30℃5、 工作环境相对湿度：≤85%（不结露）6、 可分析元素范围 ：K-U7、 检出限：Cd/Cr/Hg/Br≤2 ppm ,Pb≤5ppm 8、 测量时间 ：300-500s (系统自动调整)9、 分辨率：149±5eV10、 输入电源：AC 220V±10%，50Hz11、 额定功率 ：1500W三、仪器硬件主体配置3.1探测系统1、探测器 类型：电制冷Si-PIN探测器(采用PIN结构的高性能电致冷半导体探测器)型号：X-123制造商：美国Amptek公司生产Be窗厚度：1mil(0.0254mm)分辨率：149±5eV系统峰背比：≥5000/1能量响应范围：1keV~40keV推荐计数率：5000cps（DP4 Peaking Time=25.6us）2、信号处理系统DP4（与探测器高度集成）放大器增益自动调整；脉冲成型时间自动调整；MCA通道数可达8K；每一通道总计数可达24位（16.7M）   3.2 X光管图  片电   压: 0~50 kV电流: 1.0 mA功率: 50 W灯丝电压: 2.0V @ 50 kV/1mA灯丝电流: 1.7 A射线取出角：12°靶   材：MoBe窗厚度：0.5mm以上是X光光谱仪的详细信息，如果您对X光光谱仪的价格、厂家、型号、图片有什么疑问，请联系我们获取X光光谱仪的新信息。