TH2828A 型精密LCR数字电桥性能特点 :阻抗测量范围宽的自动平衡电桥技术四端对端口配置有效消除测试线电磁耦合基本准确度0.05%(TH2828)、0.1%(TH2828A)达1 MHz的测量频率范围交流测试信号可编程至20V(选件)达30次/秒的测量速度六位读数分辨率可测量22种阻抗参数组合30 Ω, 100 Ω可选信号源输出阻抗10点列表扫描测试功能内部可编程直流偏置± 40 V/100 mA(选件)外置偏流源至40 A(配置两台TH1775)电压或电流的自动电平调整(ALC)功能V、I测试信号电平监视功能20组内部仪器设定可供储存/读取内建比较器,10档分选及计数功能RS232C, GPIB和HANDLER接口2 m/4 m测试电缆扩展(选件, 仅TH2828)USB接口供数据外存（仅TH2828)320×240点阵大型图形LCD显示中英文可选操作界面简要介绍:    TH2828/TH2828A是采用当前国际先进的自动平衡电桥原理研制成功的新一代阻抗测试仪器，其0.05%/0.1%的基本、20Hz—1MHz的频率范围及高达100 MΩ的阻抗测试范围可以满足元件与材料的一切测量要求，特别有利于测量低D电容器和高Q电感器的测量。其支持20V交流测试信号和40A直流偏置的高功率测试条件及列表扫描功能将有利于用户扩展元件评价的能力。四端对的端口配置方式可有效消除测试线电磁耦合的影响，将低阻抗测试能力的下限比常规五端配置的仪器向下扩展了十倍。    TH2828/TH2828A是电子元件设计、检验、质量控制和生产测试的强有力工具。它的优良性能和功能为电路的设计和开发以及材料（电子材料和非电子材料）的研究和开发提供了强有力的工具。计算机通讯及测试过程记录提供了条件。    TH2828/TH2828A以其卓越的性能可以实现商业标准和军用标准如IEC和MIL标准的各种测试。广泛的测量对象：无源元件：电容器、电感器、磁芯、电阻器、变压器、芯片组件和网络                    元件等的阻抗参数测量。半导体元件：电容器、电感器、磁芯、电阻器、变压器、芯片组件和网                    络元件等的阻抗参数测量。其它元件：印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估。介质材料：塑料、陶瓷和其它材料的介电常数的损耗角评估。磁性材料：铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估。半导体材料：半导体材料的介电常数,导电率和C-V特性。液晶材料：液晶单元的介电子常数、弹性常数等C-V特性。     多种元件、材料特性测量能力揭示电感器件的多种特性TH2828/A卓越的性能和20Hz-1 MHz的测试频宽可以地分析磁性材料、电感器件的性能。使用TH10301选件的100mA DC的偏置电流可以测量高频电感器件、通讯变压器，滤波器的小电流叠加性能。使用TH1775电流叠加装置，可使偏置电流达40A以分析高功率、大电流电感器件。的陶瓷电容测量1kHz和1MHz是陶瓷材料和电容器的主要测试频率。陶瓷电容器具有低损耗值的特征，同时其容量、损耗施加之交流信号会产生明显的变化。仪器具有宽频测试能力并可提供良好的准确度，六位分辨率和自动电平控制（ALC）功能等，中以满足陶瓷材料和电容器可靠、准确的测试需要。液晶单元的电容特性测量电容－电压（C－Vac)特性是评价液晶材料性能的主要方法，常规仪器测量液晶单元的C－Vac特性遇到一个问题是测试电压不够。使用TH10301选件可提供分辨率为1%及达20Vms的可编程测试信号电平，使它能在条件下进行液晶材料的电容特性测量。半导体材料和元件的测量进行MOS型半导体制造工艺评价时，需要氧化层电容和衬底杂质密度这些参数，这些可从C－Vdc特性的测量结果推导出来。20HZ－1　MHz的测量频宽及高达40VDC的可编程偏置电压方可方便地完成C-VDC特性的测量。为了测试晶圆上的半导体器件，需要延伸电缆和探头，仪器的2m/4m延伸电缆选件可将电缆延伸的误差降至小。各种二极管、三机管、MOS管的分布电窜也是本仪器的测试内容。 适应多种领域的测试需要新材料、新元件的研究开发TH2828/TH2828A具有的0.05%/0.1%基本准确度极大提高了测量的可信度。仪器提供的六位分辨率可以检测元件参数的细微变化，尤其对损耗器件的测试具有良好的性能。提高生产效率以上是精密LCR数字电桥的详细信息，如果您对精密LCR数字电桥的价格、厂家、型号、图片有什么疑问，请联系我们获取精密LCR数字电桥的新信息。