针对RoHS检测设计开发测量贵金属如金、银、铂等效果甚佳分析测量微量有害元素Cd、Pb、Cr、Hg、Br也可以测量镀层厚度ROHS指令检测主要技术指标※. 测量元素:从硫至铀等 75 种元素※. 元素含量分析范围:2ppm-99.99%※. RoHS 指令规定的有害元素（限 Cd/Pb/Cr/Hg/Br)※. 检测限达 2ppm※. 测量时间: 60-200s※. 能量分辨率为：165±5eV※. 高压：5-50kV※. 管流：50-1000uA※. 温度适应范围： 15-26℃※. 电源：交流 220±5V（建议配置交流净化稳压电源）※. 重量：60kg※. 自动选择滤光片※. 多种准直器自动自由切换※. 电制冷硅针半导体探测器※. 加强的金属元素感度分析器※. 三重安全保护模式※. 相互不影响的基体效应校正模型※. 多变量非线性回归程序※. 任意多个可选择的分析识别模型※. 可同时分析 24 个元素析 仪器基本配置 ※.信噪比增强器※.自动切换准直器和滤光片，分别针对不同样品※.独特的光路增强系统，方便用户更好地观察样品※.测量 RoHS，电镀镀层，全元素分析，一机多用※.电制冷硅针半导体探测器，摒弃液氮制冷※.特别开发的测量软件，操作界面十分友好※.内置高清晰摄像头，方便用户随时检测样品※.精准的移动平台，更方便地调节样品位置※.高贵时尚的外型，带给您全新的视觉冲击※.样品腔尺寸：605mm*395*100mm以上是X荧光光谱仪的详细信息，如果您对X荧光光谱仪的价格、厂家、型号、图片有什么疑问，请联系我们获取X荧光光谱仪的新信息。