技术参数 技术指标 分析：0.05% 分析范围：1ppm-99.9% 测量元素：从硫至铀等75种元素 测量对象：粉末、固体、液体 分析电镀溶液中的金属离子浓度 可分析10层以上的镀层 测试镀层薄至0.005μm 步进小距离：0.01mm 测量时间：60-300s 工作温度：13-30℃ 相对湿度：≤70% 重量：30kg 工作电压：AC110v/220v 配置 单样品腔 计算机、喷墨打印机 硅针半导体探测器 放大电路 高低压电源 X光管以上是x荧光光谱仪(图)的详细信息，如果您对x荧光光谱仪(图)的价格、厂家、型号、图片有什么疑问，请联系我们获取x荧光光谱仪(图)的新信息。