镀金膜厚测量仪（测金机）在技术上一直以来都于全世界的测厚行业,X-射线荧光镀层厚度测量仪能够测量包含原子序号17至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体,极薄的浸液镀层（银、金、钯、锡等）和其它薄镀层。

镀金膜厚测量仪（测金机）技术参数:
　1.镀金膜厚测量仪（测金机）是采用根据技术标准DIN50987，ISO3497和ASTM B568的X-射线荧光测试方法；
　2.原始射线从下至上；
　3.X-射线管高压设定可调节至的应用：50kV，40kV或30kV；
　4.准值器组：圆直径为0.3,02；在附加费用的基础上可选择0.05X0.3mm长方形准值器与0.05X0.05方形准值器
　5.测量箱外部尺寸：（高×宽×深）510 mm×455 mm×580 mm，重量大约为45kg；
　6.带槽箱体的内部尺寸：（高×宽×深）240 mm×360 mm×380mm）带向上回转箱门；
　7.镀金膜厚测量仪（测金机）手动X-Y工作台（平面板：360 mm宽×240 mm深），带50 mm的X方向和50 mm的Y方向运行.
　8.试件查看用标准的彩色摄像机；
　9.测量开始/结束按钮，及LED状态指示灯与测试箱集成在一体。