X射线膜厚测试仪是采用X射线放射原理设计的,可对样品进行无破坏,无接触的测量,保证样品的完整性,减少不必要的浪费,并且先进的FP数字计算法,对测量数据进行的计算,确保测量数据的准确性.

X射线膜厚测试仪集成化计算机  工作站式设计：改善人机工程学、方便使用
简化设备安装：仅需要接入主电源线，没有其他电缆减少整机占用空间
USB和Ethernet接口：打印机、刻录机、局域网和远程在线支持功能
其他硬件特点  CCD相机拥有2x、3x或4x的变焦功能，可实现对测定样品的高分辨、实时、彩色图像观测
X射线膜厚测试你具有温度补偿功能监测系统温度，并自动校正由于温度变化可能引起的仪器漂移，保证长期的仪器稳定性
光谱校准、单击鼠标执行系统性能自检和校正程序保证仪器长期的稳定性

坚实耐用的仪器设计适用于各种工业环境