CW2010—Z轴测量显微镜CW2010—Z轴测量显微镜以影像法为测量原理, 采用光学焦点位置检测方式进行非接触高低差测量。不仅可以对准目标影像, 还能观察测量点的表面状态,对高度,深度,高低差等进行测量。本仪器的各种镜筒还具有明暗场，微分干涉，偏光的观察功能。所以对极细微的间隙高低差，夹杂物、微米以下的突起、细微划痕进行观察。一、特点: 以影像法为测量原理, 采用光学焦点位置检测方式进行非接触高低差测量。不仅可以对准目标影像, 还能观察测量点的表面状态,对高度,深度,高低差等进行测量。本仪器的各种镜筒还具有明暗场，微分干涉，偏光的观察功能。所以对极细微的间隙高低差，夹杂物、微米以下的突起、细微划痕进行观察。二、?CW2010—Z轴测量显微用途：适用于硅片、IC、LCD、TFT、PCB、MEMS激光加工、晶片测试、半导体材料、线束加工蚀刻、液晶电池盖、导线框架等产品的检查观察.也适用于经过磨抛、化学处理的工件表面的金相组织结构，几何形状进行显微观测。并且有三维的计量功能，其解析率达0.0005mm。因此是精密零件，集成电路，半导体芯片，光伏电池，光学材料等行业的必用仪器。三、?CW2010—Z轴测量显微镜主要规格??? 2.1 ?镜筒：铰链式三目头部 ??30°倾斜 ??270°旋转??? 2.2 ?高眼点平场目镜: WF10X/22?? ?2.3 ?超长物距平场物镜：PLL5X/0.12? WD 26.1， PLL10X/0.25 WD 20.2， PLL20X/0.40? WD 8.80， PLL50X/0.7? WD 3.68。?? ?2.4 ?右倾式内定位5孔转换器??? 2.5 ?落射式照明系统： 卤素灯12V30W， 内置孔径光阑，五孔转盘滤色装置（黄、绿、蓝、磨砂）推拉式检偏器和起偏器。??? 2.6 ?调焦结构：粗微动同轴调焦, 带锁紧和限位装置? 粗动升降范围30mm? 微动格值? 0.001mm*100格? 数显解析值 0.0005mm。?? ?2.7 ?光源：卤素灯 亮度可调? 6V30W（BD：12V50W）?? ?2.8 ?普通透射照明：可选? ??2.9 ?Z轴升降范围：手轮转动130mm? 允许工件 130mm????X轴移动范围? 200mm? 解析率：0.001mm? 可解锁手动快进????Y 轴移动范围? 100mm ?解析率：0.001mm? 可解锁手动快进?? ?测量（3+L/100）mm ?(L: 被测长度)?? ?落射光测量误差≤0.08%??? 3.0工作台尺寸: 360mm*250mm ??玻璃板尺寸: 225mm *175mm?? 工作台承重: 30kg???? ?3.1 仪器外型尺寸：380mm*550mm*830mm???? ?3.2 净重：100kg? 毛重：120kg?更多显微镜登陆https://www.xacewei.com，西安测维光电技术有限公司（显微镜制造商）以上是Z轴测量显微镜的详细信息，如果您对Z轴测量显微镜的价格、厂家、型号、图片有什么疑问，请联系我们获取Z轴测量显微镜的新信息。