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■ 测量范围: 硅单晶材料电阻率0.01~199.9Ω*cm■ 可测量材料: 半导体硅棒和硅片、硅碎颗粒■ 显示方式: P、N直显■ 测试探头: 手持式三探针(高速钢)
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