SUNSCAN植物冠层分析系统
价格:电议
地区:北京市
电 话:010-82611269
传 真:010-62536325

一、用途:

通过测量作物冠层PAR值提供了关于影响田间作物生长的限制因素的有价值的信息,如叶面积指数(LAI);SunScan探测器也可被用来描绘作物冠层PAR的分布图。