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XCH-5薄片测厚仪主要技术指标: 测量:0.01mm/0.005 " 0.001mm/0.0005 测量范围:0-5mm/0.2 " 0-10mm/0.4 " 0-20mm/0.8"
相关词:测厚仪;薄膜厚度仪;薄片测厚仪
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