TD-110MIT式耐折度测定仪

一、产品简介：
MIT式耐折度测定仪是专门检测纸及纸板之耐折强度，试法是将试片两端固定于机上，下夹具施与所须之荷重，使试片承受一定之张力，下夹具在试片垂直状态下向左右两边往复弯折试样，弯折角度为135度，直到折断试片。测定厚度1mm以下，为单折头MIT式，其结构参数和性能全面符合ISO5626和GB2679.5的有关规定。耐折度仪的数据处理由计算机芯片完成。

二、设计标准：TAPPI-T423PM，ASTM-D2176，JIS-P8115，GB/T2679-5

三、主要技术参数：

1.测量范围：≤1 mm；
2.计数范围：0～99999次；
3.折叠角度：135±2°；
4.折叠速度:175±10次/min；
5.折叠头宽度为:19±1mm，折口半径:0.38±0.02mm；
6.弹簧张力:4.91～14.72N，每加9.81N的张力，弹簧压缩至少17mm；
7.折叠口夹缝的距离为0.25，0.50，0.75，1.00mm；
8.外型尺寸：360*300*325mm；
9.重量：37.5kg ；
10.电源：220V 50Hz；
11.功率：90W；
13.电源：1∮ ,AC220V,2.6A
14.工作条件：室温10°Ｃ，工作台稳固、台面平

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