适用范围：
KURABO RX-400红外膜厚仪适合测量无机/有机透明或半透明薄膜厚度，尤其适用于硅钢表面绝缘涂层厚度的在线测量。 

KURABO RX-400红外膜厚仪主要特点：
(1)与X射线比较设备价格低；
(2)适于在线测量，可以距离钢板等40mm检测；
(3)高 可以检测原来的红外线膜厚度计无法测量的无机涂膜厚度及超薄涂层的厚度。

KURABO RX-400红外膜厚仪技术参数：
测光方式：红外反射吸收方式
分光方式：旋转滤波方式(6个滤波片)
测量距离：40mm(从本体部下面)
测量面积：20*30mm(椭圆)
外形尺寸及重量：
    检测器 尺寸：410(W)*207(D)*160(H) (不含突起部分)
    重量：8.5Kg
    中继连接器 尺寸：322(W)*113(D)*140(H) (不含突起部分)
    重量：4Kg
电源：AC100V±10% 50/60Hz 200VA
数据处理部 尺寸：300(W)*275(D)*165(H) (不含突起部分)
重量：6Kg
电源：AC100V±10% 50/60Hz 200VA

工艺布置图：