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WCD系列 温度冲击试验箱(三箱式)
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温度冲击试验箱主要用于对产品按照国家军用标准要求或用户自定要求，在高温与低温瞬间变化条件下，对产品的物理以及其他相关特性进行环境模拟测试，测试后，通过检测，来判断产品的性能，是否仍然能够符合预定要求，以便供产品设计、改进、鉴定及出厂检验用。

温度冲击试验箱(三箱式)技术参数如下
 

型号

WCD702S3

WCD703S3

WCD705S3

性
能
参
 数 

预热室

预热温度上限

200℃

温度上升时间

+20～＋200℃约20min

预冷室

预冷温度下限

-75℃

温度下降时间

+20～-70℃约80min

工作室

温度冲击范围

(-55℃～－10)～(50~＋150℃)

温度波动度

≤±0.5℃

温度偏差

≤±2℃

温度回复时间

≤5min

 
 
 
 
 
 
温
度
回
复
条
件

WCD702S3Ⅰ

条件一

高温+125℃暴露30min,低温-40℃暴露30min，样品重量10Kg塑封IC

条件二

高温+150℃暴露30min,环境温度5min,低温-55℃暴露30min，样品重量10Kg塑封IC。

WCD702S3Ⅱ

条件一

高温+125℃暴露30min,低温-40℃暴露30min，样品重量20Kg塑封IC

条件二

高温+150℃暴露30min,环境温度5min,低温-55℃暴露30min，样品重量20Kg塑封IC。

条件三

高温+150℃暴露30min,低温-55℃暴露30min，样品重量7.5Kg塑封IC。

 WCD703S3Ⅰ
 

条件一

高温+125℃暴露30min,低温-40℃暴露30min，样品重量10Kg塑封IC。

条件二

 高温+150℃暴露30min,环境温度5min,低温-55℃暴露30min，样品重量10Kg塑封IC。

WCD703S3Ⅱ

条件一

高温+125℃暴露30min,低温-40℃暴露30min，样品重量20Kg塑封IC。

条件二

高温+150℃暴露30min,环境温度5min,低温-55℃暴露30min，样品重量20Kg塑封IC

条件三

高温+150℃暴露30min,低温-55℃暴露30min，样品重量10Kg塑封IC。

 WCD705S3Ⅰ

条件一

 高温+125℃暴露30min,低温-40℃暴露30min，样品重量10Kg塑封IC。

条件二

高温+150℃暴露30min,环境温度5min,低温-55℃暴露30min，样品重量10Kg塑封IC。

WCD705S3Ⅱ

条件一

高温+125℃暴露30min,低温-40℃暴露30min，样品重量20Kg塑封IC。

条件二

高温+150℃暴露30min,环境温度5min,低温-55℃暴露30min，样品重量20Kg塑封IC。

条件三

高温+150℃暴露30min,低温-55℃暴露30min，样品重量10Kg塑封IC。

 结构

  外壳

 冷轧钢板表面喷塑(象牙白)

内胆

不锈钢板

隔热材料

聚氨酯发泡+超细玻璃棉

制冷

制冷方式

复叠式双级压缩机制冷方式(水冷)

制冷机

进口压缩机

测试孔

左侧Φ50mm?1个

控制器

西门子PLC控制器、彩色液晶显示触摸屏输入

记录装置

微型打印机

电脑接口

RS485接口、RS232转换线

工作室尺寸(mm)

D

670

670

670

W

650

970

970

H

460

460

780

外部尺寸(mm)

D

2245

2245

2245

W

1610

1940

1940

H

1995

1995

2315

   电源

 AC380V?50Hz三相四线制+接地线

标准配置

产品使用说明书1份、试验1份、合格证及质量保证书各1份、搁板2块、搁条4根、带脚轮

满足标准

GJB150.5