日本春日KASUGA KSD-3000 数显低电位测试仪产品特点：

1：电子设备的静电抗性下降，静电管理电压也下降。

2：以前测量机种困难，高测量100v以下的带电，0.1v的测量就可以了。同时，通过绞测量区域，也可测量LSI的包装表面等窄的区域。

3：能测量静电破坏的原因的低电位的静电。
4：可以通过有效距离转换功能追加微小电位的测量。
5：通过缩短测量距离、测量区域，可测量约20mm四方的区域，能测量高小电子设备表面电位。
6：表示部和感应部分开，能测量窄的地方，在身边也能看测量值。
7：从小电子元件的测量，广大物的电位分布的测量。
8：可转换顶峰抓柄测量和连续测量。
9：装有感应传感器故障诊断电路，故障时会显示。作为()附有根据电源消除对电池消耗对策休眠模式功能。 

产品用途： 

1：各种电子设备的带电电位测量。
2：印刷电路板等的电位分布的测量。
3：其他带电量少的物体的测量。

产品规格： 

测量举例(方法):

各部位名称: