韩国进口 薄膜厚度测量仪 ST2000
价格：电议
地区：江苏
电 话：86 25 84521963
传 真：86 25 84521964
-
图文详情
-
产品属性
-
相关推荐
| 品牌 | K-MAC | 型号 | ST2000 |
| 外形尺寸 | 190 x 265 x 316 mm（mm） | 重量 | 12Kg（Kg） |
| 产品用途 | 测量 |
| Stage Size | 150 x 120mm(70 x 50mm Travel Distance) |
| Measurement Range | 200?~ 35?(Depends on Film Type) |
| Spot size | 20? Typically |
| Measurement Speed | 1~2 sec./site |
| Application Areas | Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : Semiconductors : Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS... |
| Option | Reference Sample(K-MAC or KRISS or NIST) |
| Head | Trinocular Head |
| Nosepiecs | Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt |
| Type of Illumination | 12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer |
本产品适用于半导体领域内，测量薄膜厚度的光学分析仪器。我公司的ST产品的测量时间非常短暂，测量方法是属于非接触非破坏方法，使用显微镜可以测量很小区域内的再现性和准确性，现在，我们公司的薄膜测厚仪是远远于使用其它方法的其它产品。 【】厚度测量领域内的分解能力属于世界初微小领域测量 【】可以专用于测量微小领域的厚度分布 【】可以测量Wafer上的多层薄膜厚度与光学常数-折射率与吸收率 【】可以实时的测量厚度变化量与具有角度显示，打印，保存功能 【】可以快速的在1秒之内接受data并且修复data